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田力普局長が第4回五大特許庁長官会合に出席2011年07月15日

 先日、中国国家知的財産権局の田力普局長がはじめとする代表団は、日本の東京で開催される中国、米国、欧州、日本、韓国の第4回五大特許庁長官会合に出席した。世界知的所有権機関のフランシス・ガリ事務局長が観察者として会合に列席した。日本の海江田万里経済産業大臣が会合に出席し、開幕のあいさつを述べた。

 今回の会合では、過去1年間で五大特許庁が協力した基礎プロジェクトの進捗が報告され、次の作業計画が合意された。各庁はまた作業成果の共有、特許調和等の課題をめぐって話し合い、コミュニケーションを行った。

 会合では所期の成果が得られ、会合において各庁の調和のビジョン――「各庁間の重複的作業を取り除き、特許審査の効率と質を高め、特許の安定性を確保すること」が重ねて言明され、五庁が引き続きこの目標に向かって着実に進むことが期待される。

 中国、米国、欧州、日本、韓国の五庁の業務交流活動は2007年より開始し、現在主な内容は、特許分類、特許審査・調査の方法、機械翻訳、人材育成等に関する基礎業務プロジェクトを行うことである。


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